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無損檢測技術是一門理論上綜合性較強，又非常重視實踐環節的很有發展前途的學科。它涉及到材料的物理性質、產品設計、制造工藝、斷裂力學以及有限元計算等諸多方面。
在化工、電子、電力、金屬等行業中，為了實現對各類材料的保護或裝飾作用，通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法，這樣，便出現了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學生成膜等概念，我們稱之為"覆層"。
覆層的厚度測量已成為金屬加工工業已用戶進行成品質量檢測理想的最重要的工序。是產品達到優質標準的理想手段。目前，國內外已普遍按統一的國際標準測定涂鍍層厚度，覆層無損檢測的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質研究方面的逐漸進步而更加至關重要。
有關覆層無損檢測方法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產品或產品表面，系有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線反射法可以無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍小。因有放射源，故，使用者必須遵守射線防護規范，一般多用于各層金屬鍍層的厚度測量。
電容法一般僅在很薄導電體的絕緣覆層厚度測試上應用。
磁性測量法及渦流測量法，隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微處理機技術后，測厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實用化方面邁進了一大步。測量的分辨率已達0.1μm，精度可達到1％。又有適用范圍廣，量程寬、操作簡便、價廉等特點。是工業和科研使用最廣泛的儀器。
采用無損檢測方法測厚既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，故能使大量的檢測工作經濟地進行。以下分別介紹幾種常規測厚的方法。
磁性測量原理
一、磁吸力原理
利用永久磁鐵測頭與導磁的鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關系可測量覆層的厚度，這個距離就是覆層的厚度，所以只要覆層與基材的導磁率之差足夠大，就可以進行測量。鑒于大多數工業品采用結構鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成形，所以磁性測厚儀應用最廣。測量儀基本結構是磁鋼，拉簧，標尺及自停機構。當磁鋼與被測物吸合后，有一個彈簧在其后逐漸拉長，拉力逐漸增大，當拉力鋼大于吸力磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。一般來講，依不同的型號又不同的量程與適應場合。在一個約350º角度內可用刻度表示0～100µm；0～1000µm；0～5mm等的覆層厚度，精度可達5％以上，能滿足工業應用的一般要求。滄州歐譜這種儀器的特點是操作簡單、強固耐用、不用電源和測量前的校準，價格也較低，很適合車間作現場質量控制。
二、磁感應原理測厚儀
是利用測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來測定覆層厚度的，覆層愈厚，磁通愈小。由于是電子儀器，校準容易，可以實多種功能，擴大量程，提高精度，由于測試條件可降低許多，故比磁吸力式應用領域更廣。
當軟鐵芯上繞著線圈的測頭放在被測物上后，儀器自動輸出測試電流，磁通的大小影響到感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。早期的產品用表頭指示，精度和重復性都不好，后來發展了數字顯示式，電路設計也日趨完善。近年來引入微處理機技術及電子開關，穩頻等新技術，多種獲專利的產品相繼問世，精度有了很大的提高，達到1%,分辨率達到0.1µm，磁感應測厚儀的測頭多采用軟鋼做導磁鐵芯，線圈電流的頻率不高，以降低渦流效應的影響，測頭具有溫度補償功能。由于儀器已智能化，可以辨識不同的測頭，配合不同的軟件及自動改變測頭電流和頻率。一臺儀器能配合多種測頭，也可以用同一臺儀器。可以說，適用于工業生產及科學研究的儀器已達到了了非常實用化的階段。
利用電磁原理研制的測厚儀，原則上適用所有非導磁覆層測量，一般要求基本的磁導率達500以上。覆層材料如也是磁性的，則要求與基材的磁導率有足夠大的差距（如鋼上鍍鎳層）。磁性原理測厚儀可以應用在精確測量鋼鐵表面的油漆涂層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層，化工石油行業的各種防腐涂層。對于感光膠片、電容器紙、塑料、聚酯等薄膜生產工業，利用測量平臺或輥（鋼鐵制造）也可用來實現大面積上任一點的測量。
電渦流測量原理
電(dian)(dian)渦流(liu)(liu)測(ce)厚法(fa)主要應用于金屬(shu)(shu)基體(ti)上各種(zhong)非金屬(shu)(shu)涂(tu)鍍(du)層的測(ce)量。利用高頻交流(liu)(liu)電(dian)(dian)在作為(wei)探(tan)頭(tou)的線圈中產生一(yi)個電(dian)(dian)磁場(chang)，將(jiang)探(tan)頭(tou)靠近導電(dian)(dian)的金屬(shu)(shu)體(ti)時，就在金屬(shu)(shu)材料中形成(cheng)渦流(liu)(liu)，且隨(sui)與金屬(shu)(shu)體(ti)的距離減小而增大(da)，該渦流(liu)(liu)會影響探(tan)頭(tou)線圈的磁通